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美國 賽默飛? ELEMENT? GD PLUS GD 質(zhì)譜儀

產(chǎn)品名稱：質(zhì)譜儀 　　　　
制造廠商：美國 賽默飛
產(chǎn)品型號：ELEMENT™ GD PLUS GD
產(chǎn)品描述/技術指標：

ELEMENT™ GD PLUS GD 質(zhì)譜儀

高純度導體材料中微量元素直接分析
Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ GD-MS 系統(tǒng)將快速流輝光放電離子源與高分辨率質(zhì)譜儀相結合，主要用于為冶金行業(yè)提供完整的材料表征。 作為高純度導體和半導體材料直接分析的理想工具，此系統(tǒng)可以檢測到并常規(guī)地為固體樣本中幾乎所有的元素在 ppb 級或以下進行定量。
了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 為固體中高級高純度材料的直接分析定義新的標準。通過較大限度減少校準和樣品制備操作，可提高樣品處理量并達到超低檢測限，從而使 GD-MS 適合整塊金屬分析和深度剖析應用。
陶瓷和其他幾種非導電粉末使用二次電極法進行分析，從而提供相同水平的靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。這使得 GD-MS 成為痕量金屬分析的可靠標準方法。

描述

存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進行常規(guī)檢測和定量：許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。
µs 脈沖式高流速輝光放電池
采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源
廣泛可調(diào)的濺射速率適用于快速進行整體分析和高級深度剖析應用
使用二級電極進行氧化鋁粉末分析
雙聚焦質(zhì)譜儀
高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達亞 ppb 級檢測限
高質(zhì)量分辨率可提供較高水平的選擇性和準確度：是無可爭議的分析結果的先決條件

十二數(shù)量級的自動檢測系統(tǒng)
在一次分析中測定基體和超痕量元素，全自動檢測器涵蓋 12 數(shù)量級動態(tài)線性范圍
直接定量測定基體元素 IBR（離子束比率）
高效率和簡單易用的軟件包
所有參數(shù)均由計算機控制
全自動調(diào)諧、分析和數(shù)據(jù)評估
自動 LIMS 連接性
遠程控制和診斷
Windows 7
樣品周轉時間通常少于 10 分鐘
能夠在一次分析中測定基體元素到超痕量元素
深度剖析涵蓋數(shù)百微米到一納米的層厚度
較小化基體效應，便于進行直接定量

推薦用途：
航空航天：鎳基高溫合金、復合材料、涂層和擴散層的深度剖析
微電子學：銅、鋁粉、濺射靶材
可再生能源：硅塊、晶片、太陽能電池
醫(yī)療/制藥/食品：不銹鋼、合金